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光伏组件PID测试高压电源
PID形成原因组件PID效应是电池组件长期在直流侧系统的高电压作用下，导致玻璃、封装材料之间出现漏电流，大量电荷聚集在电池片表
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2024-06-14 |
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半导体分立器件测试系统
半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放
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2024-06-14 |
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SMU数字源表搭建高校微电子教学实验平台
一、高校集成电路实验室建设中的痛点1、可定制化程度低，支出成本高。采用教育型专用仪器仪表，功能比较单一，复用率较低，只能
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2024-06-11 |
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半导体器件功率分析仪功率器件静态测试仪
功率器件静态测试系统简介普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（
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2024-06-06 |
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氮化镓射频器件测试数字源表
GaNHEMT器件GaNHEMT(High Electron MobilityTransistors,氮化家高电子迁移率晶体管)作为宽禁带(WBG)半导体器件的代表,相比于Si和
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2024-06-06 |
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钙钛矿太阳能电池片IV性能测试仪
钙钛矿太阳能电池是利用钙钛矿结构材料作为吸光材料的太阳能电池，属于第三代薄膜电池的代表。相比于晶硅电池，钙钛矿电池具有极
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2024-06-03 |
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功率半导体器件CV测试系统+CV测试仪
概述电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压
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2024-05-31 |
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igbt测试仪igbt测试设备3500V
普赛斯igbt测试仪igbt测试设备3500V解决方案普赛斯IGBT功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功
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2024-05-31 |
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