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ic芯片电性能测试数字源表iv曲线扫描
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺
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2024-05-22 |
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脉冲恒流源窄脉冲LIV测试系统
脉冲恒流源窄脉冲LIV测试系统认准普赛斯仪表，厂家直销，服务完善，详询一八一四零六六三四七六；PL系列脉冲电流源是针对大功率
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2024-05-22 |
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旁路二极管热性能测试脉冲电流源
热斑效应：太阳能电池一般是由多块电池组件串联或并联起来。串联支路中可能由于电池片内部缺陷或者外部遮挡，将被当作负载消耗其
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2024-05-22 |
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多通道轮询I-V测试SMU数字源表
钙钛矿太阳能电池是利用钙钛矿结构材料作为吸光材料的太阳能电池，属于第三代薄膜电池的代表。相比于晶硅电池，钙钛矿电池具有极
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2024-05-22 |
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晶体管iv图示仪分立器件测试系统
晶体管泛指一切以半导体材料为基础的单一元件，是一种半导体器件，放大器或电控开关常用；包括各种半导体材料制成的二极管、三极
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2024-05-22 |
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纳米材料性能测试数字源表高精度iv曲线扫描
概述纳米材料，定义为粒径在1-100纳米之间一类超细材料，具有表面效应、小尺寸效应、宏观量子隧道效应等一些特殊物理化学性能。
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2024-05-22 |
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1200V半导体分析仪替代4200
1200V半导体分析仪替代4200特点：30V-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；测量精度高,全量程下可达0.03%精度；内置标准器件测试程序
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2024-05-22 |
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霍尔测试系统霍尔测试仪300A/us上升沿
选择普赛斯理由普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、高
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2024-05-22 |
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