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DC参数测试IV数字源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺
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2024-05-14 |
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功率mos测试脉冲源表30A数字源表
PXOOB系列功率mos测试脉冲源表30A数字源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电
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2024-05-14 |
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光电探测器电性能测试SMU精密电流源
光电探测器光电测试光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成最终的特性分析和分拣操作;光电探测器
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2024-05-14 |
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半导体分立器件测试仪IV曲线扫描仪器
半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件，用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等电路中，是构成电
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2024-05-14 |
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高校实验教学IV性能分析数字源表
高校实验教学IV性能分析数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，普赛斯S系列、P系列源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售
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2024-05-14 |
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二三极管iv测试仪iv曲线扫描仪
半导体分立器件根据基材不同,可分为不同类型。以硅基半导体为基材时,半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管
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2024-05-14 |
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SMU搭建晶圆级微电子器件材料测试系统
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进
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2024-05-10 |
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宽量程功率器件测试仪
静态特性测试挑战随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特
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2024-05-10 |
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